渦流測厚儀

應用范圍

渦流測厚儀，用于檢測各種非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化層或涂層。儀器適于在生產(chǎn)現場(chǎng)、銷(xiāo)售現場(chǎng)或施工現場(chǎng)對產(chǎn)品進(jìn)行快速無(wú)損的膜厚檢查?？捎糜谏a(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監督檢驗。

技術(shù)規格

量程： 0～150μm； 精 度： ±3%； 分辨率：0.1μm；

功耗： 0.06W； 外形尺寸： 150mm×80mm×30mm； 重 量： 280g。

儀器特點(diǎn)

* 膜厚校正片

膜厚校正片是儀器的計量基準。本儀器的膜厚校正片全部經(jīng)過(guò)技術(shù)監督部門(mén)的檢測，附有檢測報告。這一點(diǎn)在國內外儀器中都是不多見(jiàn)的。它保證了儀器計量的準確性和可靠性。

* 探頭

測厚儀最容易損壞的部件是探頭，本儀器對探頭做了特殊的耐久性設計，具有防磕碰、防水、探頭線(xiàn)防折曲等防護功能。

標準配置

主機 1臺

膜厚校正片 1套（4片）

校正基體 1塊

儀器箱 1個(gè)

可選附件

膜厚校正片 （12μmμm(μm@μm附檢測報告)

校正基體 6063鋁合金

渦流測量原理

高頻交流信號在測頭線(xiàn)圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測頭靠近導體時(shí)，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測頭專(zhuān)門(mén)測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線(xiàn)圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關(guān)系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過(guò)校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適